全自動頻響法變壓器繞組變形分析儀變壓器繞組變形測試儀系統(tǒng)用于測試6kV及以上電壓等級電力變壓器及其它特殊用途的變壓器，電力變壓器在運行或者運輸過程中不可避免地要遭受各種故障短路電流的沖擊或者物理撞擊，在短路電流產(chǎn)生的強大電動力作用下，變壓器繞組可能失去穩(wěn)定性，導致局部扭曲、鼓包或移位等*變形現(xiàn)象，這樣將嚴重影響變壓器的安全運行。本儀器采用掃頻法及低電壓阻抗法對變壓器的繞組進行測試，按國家電力行業(yè)標準DL/T911－2004采用頻率響應分析法測量變壓器的繞組變形，是通過檢測變壓器各個繞組的幅頻響應特性，并對檢測結果進行縱向或橫向 比較，根據(jù)幅頻響應特性的變化程度，判斷變壓器繞組可能發(fā)生的變形情況。DL/TXXX－2007也給出了低電壓阻抗的判斷方法。

產(chǎn)品特點
◆ 采集控制采用高速、高集成化微處理器。
◆ PC機與儀器之間USB通信接口。
◆ 硬件機芯采用DDS數(shù)字高速掃頻技術(美國)，通過測試可以準確診斷出繞組發(fā)生扭曲、鼓包、移位、傾斜、匝間短路變形及相間接觸短路等故障。
◆ 高分辨dB值測量，雙通道16位A/D(現(xiàn)場試驗改變分接開關，即有明顯輸出變化)。
◆ 信號輸出幅度可以軟件調節(jié)，zui大幅度峰值±10V。
◆ 計算機將檢測結果生成電子文檔(WORD)
◆ 選用精密、高穩(wěn)定元器件，對同一相重復試驗，測量重復率在99.5%以上。
◆ 成品電路板,表面有特殊處理，具有抗水和有害氣體污染。
◆ 筆記本電腦和測量儀器采用隔離電源供電，排除外界干擾。
◆ 儀器具有線性掃頻測量和分段掃頻測量雙測量系統(tǒng)功能,兼容當前國內兩種技術流派的測量模式
◆ 幅頻特性符合國家關于幅頻特性測試儀的技術指標。橫坐標（頻率）具有線性分度及對數(shù)分度兩種，因此打印出的曲線可以是線性分度曲線也可以是對數(shù)分度曲線，用戶可根據(jù)實際需要選用。
◆ 檢測數(shù)據(jù)自動分析系統(tǒng),橫向比較A、B 、C三相之間進行繞組相似性比較,其結果為:①*性很好②*性較好③*性較差④*性很差,縱向比較A-A、B-B、C-C調取原數(shù)據(jù)與當前數(shù)據(jù)同相之間進行繞組變形比較，其結果為:①正常繞組②輕度變形③中度變形④嚴重變形。
◆ 自動生成Word電子文檔，供保存和打印。
◆ *電力標準DL/T911－2004《電力變壓器繞組變形的頻率響應分析法》的技術條件。

 掃描方式：（儀器具備線性掃頻測量和分段掃頻測量雙測量系統(tǒng)）
    （1）線性掃描分布
         掃頻測量范圍：(1kHz)-(2MHz)、2000掃頻點、分辨率為1kHz
    （2）分段掃頻測量分布 
         掃頻測量范圍：(0.5kHz)-(1MHz)、2000掃頻點；
(0.5kHz)-(10kHz)、 分辨率為0.02kHz
(10kHz)-(100kHz)、 分辨率為0.2kHz
(100kHz)-(500kHz)、 分辨率為1kHz
(500kHz)-(1000kHz)、分辨率為1kHz

全自動頻響法變壓器繞組變形分析儀

技術指標：

儀器自帶一個通道DDS信號輸出作為掃頻的激勵信號；信號輸出為正弦波，信號輸出幅度可以軟件調節(jié)，zui大幅度±5V，信號輸出阻抗為50Ω
兩個采集通道，一個采集激勵信號，一個采集響應信號，用于計算傳遞函數(shù)
激勵通道測量為固定量程：±5V；響應通道有 8檔量程，在測量過程中自動調節(jié)量程，zui大輸入信號為±25V
采集通道量化精度：12位
采集通道zui大靜態(tài)誤差：0.5%
每通道zui大存儲容量：64K樣點
每通道zui高采樣率：20Msps
采集通道輸入阻抗：1MΩ
掃頻測量范圍：1K－1MHz
掃描方式：采用線形分布的掃頻測量方式
掃描頻率精度：信號源輸出正弦信號的頻率精度不大于0.01%
掃頻測量頻點：1K－1MHz，測量點數(shù)1000點
采用Vittal原裝機箱
符合國家電力行業(yè)標準：DL/T911-2004

注意事項：

1.檢查變壓器接地狀況是否良好，套管引線應全部解開。
2.詳細記錄被試品的銘牌數(shù)據(jù)及原始工況有否異常，以及被試品變壓器當前測試狀況下的分接開關位置，并仔細輸入被試品情況登記窗。
3.根據(jù)被試品的情況建立被試品數(shù)據(jù)文件的子目錄；測試完成后應將測量的數(shù)據(jù)備份至該目錄下，并注意進行整理工作。
4.數(shù)據(jù)存放格式：文件是以ASCII碼的形式存放。
5.對剛退出運行的變壓器進行測量，測量前應盡量讓其散熱降溫；但在整個測量過程中應停止對其所施的降溫手段，保持溫度，以免測量過程中溫度變化過大而影響測量結果的*性。